抗表皮基底膜抗體概述
抗表皮基底膜抗體測定是診斷類天皰瘡的的特異性標(biāo)志抗體。用間接免疫熒光檢查,診斷類天皰瘡患者血清中有抗表皮基底膜抗體,主要是IgG。
間接免疫熒光法實驗原理:將熒光素標(biāo)記在相應(yīng)的抗體上,直接與相應(yīng)抗原反應(yīng)。
第一步,用未知未標(biāo)記的抗體(待檢標(biāo)本)加到已知抗原標(biāo)本上,在濕盒中37℃保溫30min,使抗原抗體充分結(jié)合,然后洗滌,除去未結(jié)合的抗體。
第二步,加上熒光標(biāo)記的抗球蛋白抗體或抗IgG、IgM抗體。如果第一步發(fā)生了抗原抗體反應(yīng),標(biāo)記的抗球蛋白抗體就會和已結(jié)合抗原的抗體進(jìn)一步結(jié)合,從而可鑒定未知抗體。
抗表皮基底膜抗體正常值
IIF法(間接免疫熒光法):陰性。
抗表皮基底膜抗體臨床意義
陽性: 大皰性類天皰瘡(陽性率70%),妊娠皰瘡(陽性率20-25%,使用補體固定的間接免疫熒光技術(shù),陽性率可提高到90%),瘢痕性 類天皰瘡(陽性率10-30%,多為低滴度)。 注意:抗體滴度與疾病的活動性不相關(guān)。獲得性大皰性表皮松懈癥及大皰性系統(tǒng)性紅斑狼瘡者也可為陽性。
抗表皮基底膜抗體檢查方法
抗表皮基底膜抗體注意事項